3F 試料評価室PR-32/33
クリックすると別ウィンドウで開きます。| 評価・分析装置 | |
|---|---|
 DLTS (Deep Level Transient Spectroscopy) |
|
 インピーダンス測定器 |
|
 原子間力顕微鏡 (AFM) |
|
 ホール効果測定装置 |
 半導体電気特性評価装置 |
 膜厚測定システム |
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九州大学グローバルイノベーションセンター 機能デバイス領域
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